Wir forschen an grundlagenphysikalischen Eigenschafen von supraleitenden und magnetischen Schichtsystemen (Einkristalle, Dünnfilm-Heterostrukturen).  

Die Hauptforschungsaktivitäten liegen im Bereich der Untersuchung elektrischer Transporteigenschaften bei tiefen Temperaturen, mit Schwerpunkten bei Tunnel- und Josephsoneffekten, Quanteninterferometrie und nichtlinearer Dynamik.  

Die hierbei eingesetzten Technologien beinhalten moderne Verfahren zur

Dünnschichtdepostion, -Strukturierung und -Charakterisierung (UHV Cluster-Depositionssystem, Elektronenstrahl- und Photolithographie, Charakterisierung via SEM, XRD, EBSD, AFM/STM)

elektrische Transportmessungen (in Magnetfeldern bis 12 T, in Mikrowellenfeldern bis 40 GHz, bei Temperaturen zwischen 10 mK und 300 K)

Abbildung elektrischer Transporteigenschaften bei tiefen Temperaturen via Tieftemperatur-Rasterelektronenmikroskopie (TTREM) und Tieftemperatur-Raster-Lasermikroskopie (TTRLM)