Projektcryo-FIB-SEM – Cryogenic focused ion beam scanning electron microscope
Grunddaten
Akronym:
cryo-FIB-SEM
Titel:
Cryogenic focused ion beam scanning electron microscope
Laufzeit:
10.07.2018 bis 10.07.2022
Abstract / Kurz- beschreibung:
Siehe englische Version
Schlüsselwörter:
Elektronenmikroskopie
electron microscopy
Beteiligte Mitarbeiter/innen
Leiter/innen
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Universität Tübingen
Universität Tübingen
Forschungsbereich Angewandte Geowissenschaften
Fachbereich Geowissenschaften, Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Fachbereich Geowissenschaften, Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Lokale Einrichtungen
Forschungsbereich Angewandte Geowissenschaften
Fachbereich Geowissenschaften
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Geldgeber
Bonn, Nordrhein-Westfalen, Deutschland