PatentVorrichtung zur Bestimmung optischer Eigenschaften dünner Schichten

Grunddaten

Titel:
Vorrichtung zur Bestimmung optischer Eigenschaften dünner Schichten
Aktenzeichen (DPMA):
20 2004 020 238.7
Erstanmeldung:
31.12.2004
Aufgabe:
17.06.2009 (verkauft)

Erfinder

Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Universität Tübingen
Institut für Physikalische und Theoretische Chemie (IPTC)
Fachbereich Chemie, Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Institut für Physikalische und Theoretische Chemie (IPTC)
Fachbereich Chemie, Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Wenger, Matthias
ehemals Universität Tübingen

Lokale Einrichtungen

Institut für Physikalische und Theoretische Chemie (IPTC)
Fachbereich Chemie
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
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